В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассмотрены методы контроля, программы испытаний, конструкции устройств (тестеров) для контроля параметров аналоговых микросхем, силовых диодов и транзисторов, приведены описания отечественных и зарубежных тестеров.
Монография предназначена для инженерно-технических работников предприятий электронной и радиоэлектронной промышленности, также может быть полезна студентам вузов, обучающимся по направлениям «Радиотехника» «Инфокоммуникационные технологии и системы связи» «Конструирование и технология электронных средств» «Электроника и наноэлектроника» «Электроэнергетика и электротехника» (уровень магистратура), аспирантам направлений «Электроника, радиотехника и системы связи» «Электро- и теплотехника».
Библиотека электронных книг "Семь Книг" - admin@7books.ru
Оставить комментарий