Юрий Раков, Вячеслав Данилов – Анализ процессов в полупроводниковых устройствах. Часть 5

Загрузка...

Автор: Вячеслав Семенович Данилов, Юрий Николаевич Раков

Издательство: НГТУ

ISBN:

978-5-7782-1618-1

Книга из раздела: Учебная литература, Книги

О книге

«Юрий Раков, Вячеслав Данилов – Анализ процессов в полупроводниковых устройствах. Часть 5»

В четвертой части учебного пособия подробно изложена физика процессов, происходящих в полевых транзисторах с барьером Шоттки на арсениде галлия, наиболее быстродействующих и широко применяемых в СВЧ-диапазоне. Рассмотрена электрофизическая модель на данный тип транзисторов и приведены практические результаты, доказывающие правомерность такой модели. Данная часть пособия полезна студентам, специализирующимся в проектировании быстродействующих электронных средств по твердотельной технологии.